大理石平臺(tái)也稱大理石平板、巖石平板、平板、花崗巖平臺(tái)、花崗石平臺(tái)等，是用于工件檢驗(yàn)或者劃線工作中的平面基準(zhǔn)器具。

根據(jù)大理石平臺(tái)guo家標(biāo)準(zhǔn)GB/T20428-2006規(guī)定，大理石平臺(tái)生產(chǎn)廠家生產(chǎn)的大理石平臺(tái)精度等級(jí)分為0級(jí)、1級(jí)、2級(jí)和3級(jí)，其中0級(jí)、1級(jí)、2級(jí)大理石平臺(tái)作為檢驗(yàn)平臺(tái)、檢測平臺(tái)使用，3級(jí)大理石平臺(tái)作為劃線平臺(tái)使用。具體大理石平臺(tái)精度等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)如下：

⑴大理石平臺(tái)整個(gè)工作面平面度要求

0級(jí)大理石平臺(tái)精度等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)（微米）=0.003乘以大理石平臺(tái)對角線長度（mm）+2.5；

1級(jí)大理石平臺(tái)精度等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)（微米）=0.006乘以大理石平臺(tái)對角線長度（mm）+5；

2級(jí)大理石平臺(tái)精度等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)（微米）=0.012乘以大理石平臺(tái)對角線長度（mm）+10；

3級(jí)大理石平臺(tái)精度等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)（微米）=0.024乘以大理石平臺(tái)對角線長度（mm）+20。

 ⑵ 大理石平臺(tái)工作面局部平面度要求

大理石平臺(tái)任意250 mmX250 mm局部工作面的平面度誤差不應(yīng)大于以下規(guī)定：

a)   0級(jí)大理石平臺(tái)為3.5μm

b)    1級(jí)大理石平臺(tái)為7μm；

c)     2級(jí)大理石平臺(tái)為15μm；

d)    3級(jí)大理石平臺(tái)為30μm。